這些失效模式使用基本推力試驗，其中主要試驗變量是推力高度和推力速度。涉及的失效模式是打線(xiàn)與pad或芯片之間合金層中的粘合失效。粘合質(zhì)量問(wèn)題是由于不正確的粘合工藝、材料質(zhì)量或粘合老化造成。

一、金和銅球

（1）IMC 失效

?粘結強度已知

?可接受性取決于強度

（2）多數殘留失效

?粘接強度未知

?可接受性取決于強度

?粘接強度良好或粘接測試不良

（3）Pad crater

?已知pad強度

?可接受性取決于強度

?可能為打線(xiàn)機問(wèn)題

（4）Bond failure

?粘結強度已知

?可接受性取決于強度

?可能非常弱的粘合

（5）剪切高度不一致的多數殘留失效

?粘接強度未知

?測試不良、樣品夾緊不良或bond tester問(wèn)題

二、錫球或錫塊

（1）多數殘留失效

?粘接強度未知

（2）Pad failure

?粘結強度已知

?可接受性取決于強度

（3）Pad crater

?已知pad強度

?可接受性取決于強度

（4）Bond failure

?粘結強度已知

?可接受性取決于強度

?可能是弱粘合

（5）IMC 失敗

?粘結強度已知

?可接受性取決于強度

三、錫球和銅柱

推力高度設定于銅柱高度以測試與基板粘合強度或設定于錫球高度以測試粘合。這可能是non-wet故障模式。

推力高度必須大于銅柱才能剪切錫球。因此，最佳剪切高度是銅柱的高度+ 2 μm。

四、芯片推力

（1）芯片粘合失效

?粘結強度已知

?可接受性取決于強度

?可能是弱粘合

（2）基板失效

?粘結強度已知

?可接受性取決于強度

（3）Bond failure

?粘結強度已知

?可接受性取決于強度

（4）基板粘接失效

?粘結強度已知

?可接受性取決于強度

?可能是弱粘合

（5）芯片斷裂

?粘接強度未知

?模具強度已知

?可接受性取決于 強度

（6）芯片碎裂

?粘接強度未知

?可接受性取決于強度

?測試不良或可能的最大測試力

我們專(zhuān)業(yè)做推拉力測試設備10多年，測試過(guò)程中有其他數據處理問(wèn)題也可以聯(lián)系我們！竭誠為您服務(wù)！